Толщиномер покрытий INSIGHT использует микрофокусную рентгеновскую трубку для сбора и конвергенции большей части лучей от источника рентгеновского излучения в пятно микропучка и облучения им места расположения образца, получая таким образом хорошее пространственное разрешение и сильный сигнал флуоресценции, который затем захватывается, обрабатывается и оценивается датчиком энергетического спектра и последующим процессором данных и т.д. для получения информации о составе образца в результате облученной флуоресценции. Он обеспечивает быстрое измерение и точный анализ для более сложных задач и идеально подходит для элементного анализа неизвестных образцов, неоднородных или неправильной формы, а также микроскопических объектов.
Толщиномер покрытий INSIGHT - это анализатор покрытий с подсветкой, компактный, не занимающий много места, простой в эксплуатации, быстрый в анализе и точный в определении. Он широко используется для элементного анализа и проверки толщины образцов с обычной и сложной структурой покрытия, особенно неоднородных, неправильной или даже микроскопической формы, гарантируя клиентам получение надежных, воспроизводимых результатов для сотен применений. К ним относятся: ювелирные изделия, мелкие детали, покрытия для разъемов, общие печатные платы и т. д.
Быстрая и четкая фокусировка малых и больших образцов, увеличение видеоизображения, перекрестие и автофокус.
Процессы обработки поверхности печатных плат, как правило, выравнивание горячим воздухом, органическое покрытие OSP, химическое никелирование/импрегнированное золото, пропитка серебром, пропитка оловом и никель-золотое покрытие. DAWN INSIGHT обеспечивает быстрый, эффективный, неразрушающий и точный анализ толщины и состава покрытий печатных плат различной формы. |
Процесс нанесения покрытия может играть роль в защите металлической поверхности ювелирных изделий, а также делать поверхность металлических украшений более красивой. В разных странах существуют различные стандарты для нанесения покрытия на ювелирные изделия, в Китае действует стандарт "Общие технические условия нанесения покрытия на ювелирные изделия из драгоценных металлов QB T 4188-2011". Для того чтобы удовлетворить требования рынка к качеству и обеспечить соответствие отраслевым нормам, Xiao INSIGHT подходит для проверки толщины и состава однослойных и многослойных покрытий ювелирных изделий различной формы. |
Технология нанесения покрытий и развитие электронных компонентов синергетически взаимодействуют друг с другом. С ускорением темпов развития общества постепенно повышаются требования к характеристикам электронных компонентов, и технология нанесения покрытий приобретает особое значение. Чтобы обеспечить стабильность и надежность электронных изделий, покрытие электронных компонентов для тестирования и проверки является важной частью. Обычно электронные компоненты покрываются олово-серебряным (Sn-Ag) покрытием, олово-висмутовым (Sn-Bi) покрытием, олово-медным (Sn-Cu) покрытием, предварительным покрытием никель-палладий-золото (Ni-Pd-Au) и так далее. |
Мелкие детали общего назначения и небольшие конструкции С быстрым развитием науки и техники детали в различных отраслях промышленности становятся все более миниатюрными, и процесс гальванизации, как важный метод обработки поверхности мелких деталей, подразделяется на гальванизацию подвесом, гальванизацию валиком, последовательную гальванизацию и гальванизацию щеткой. |
Топливные элементы Технология обработки поверхности широко используется в производстве топливных элементов, например, в процессе обработки поверхности опорных и соединительных деталей топливных элементов, в процессе обработки поверхности биполярных пластин топливных элементов и в процессе обработки поверхности деталей крышки (двигателя топливного элемента или корпуса блока стека). Технология XRF компании WaveSound обеспечивает правильное решение для контроля качества в промышленности топливных элементов. |
| особенности | Архитектура измерений "сверху вниз", измерительная платформа XYZ, многослойный алгоритм Muti-FP |
| Количество анализируемых слоев | Na—Fm |
| Рентгеновская трубка | 5 слоев (4 слоя + подложка), каждый слой может анализировать 10 элементов, композиционный анализ - до 25 элементов |
| Рентгеновская трубка | 50 W（50kV，1mA）Микрофокусная вольфрамо-палладиевая лучевая трубка (материал мишени опционально) |
| ремесло | Si-PIN детектор большой площади |
| коллиматор | Возможность выбора φ0.05-φ1，Широкий выбор моделей коллиматоров |
| Камера | Цветная CMOS-камера высокого разрешения, 5 мегапикселей |
| Ручной образец XY-стадии | Диапазон перемещения:100 x 150 mm |
| Программируемый XY-каскад | Дополнительно |
| Диапазон перемещения по оси Z | 150 mm |
| Размер выборочной корзины | 564mm×540mm×150mm（L×W×H） |
| Габаритные размеры | 664mm×761mm×757mm（L×W×H） |
| гири | 120KG |
| источник питания | AC 220V±5V 50Hz (конфигурация зависит от региона) |
| рейтинг | 150W |
