процесс, обеспечивающий надежность и стабильность качества продукции в электронной промышленности, его толщина является наиболее важным фактором, гарантирующим качество изделия, поэтому контроль/контроль качества толщины покрытия имеет решающее значение. Рентгенофлуоресценция (XRF) стала широко используемым методом измерения толщины и состава покрытия благодаря своей неразрушающей природе, быстроте измерений и простоте использования.
Разработанный для анализа микроточечных и ультратонких покрытий, INSIGHT обеспечивает чрезвычайно высокую скорость счета для измерения наноразмерных покрытий на элементах размером менее 50 мкм и дает высокоточные результаты при минимальном времени измерения благодаря использованию высокоинтенсивной капиллярной оптики и высокочувствительного детектора. Он помогает многим отраслям, связанным с производством печатных плат, полупроводников и других электронных устройств, легко решать задачи контроля, связанные с ультратонкими покрытиями, эффективно повышая производительность и обеспечивая соответствие спецификациям, чтобы избежать риска низкой производительности и затрат, связанных с браком или повторной обработкой.
Au/Ni/Cu/ PCB；Sn/Cu/PCB；Au/NiP/Cu/PCB；Ag/Cu/PCB；Sn/Cu/PCB；SnPd/Cu/PCB；Au/Pd/NiP/Cu/PCB |
 Покрытие разъемов |
|
Свинцовая рамка Свинцовая рамка - это тонкий металлический каркас, который соединяет контактные площадки чипа внутри полупроводникового интегрального блока и внешние провода, и является основным конструкционным материалом для полупроводниковой упаковки. Для того чтобы обеспечить загрузку/крепление чипа в процессе упаковки, свинцовая рамка нуждается в специальной обработке поверхности, а распространенные элементы покрытия свинцовой рамки включают золото, серебро, палладий, никель и так далее. |
Покрытие никелем/пропитанным золотом (ENIG) является одним из наиболее распространенных видов обработки поверхности, используемых в современном производстве печатных плат. WaveSound Science предлагает эффективные и интеллектуальные XRF-анализаторы, которые помогают клиентам сократить материальные затраты и соответствовать промышленным спецификациям, таким как IPC-4552B, IPC-4556, IPC-4554, IPC-4553A и другим. |
| особенности | Архитектура измерений "сверху вниз", измерительная платформа XYZ, многослойный алгоритм Muti-FP |
| Элементарный диапазон | Na—Fm |
| Количество анализируемых слоев | 5 слоев (4 слоя + подложка), каждый слой может анализировать 10 элементов, композиционный анализ - до 25 элементов |
| Рентгеновская трубка | Микрофокусная рентгеновская трубка, капиллярная рентгеновская трубка (опция) |
| ремесло | Высокочувствительный детектор SDD большой площади, детектор SDD 50 мм2 сверхбольшой площади (опция) |
| коллиматор | Возможность выбора нескольких калибров, возможность комбинирования нескольких калибров |
| Камера | Цветная CMOS-камера высокого разрешения, 5 мегапикселей |
| Ручной образец XY-стадии | Диапазон перемещения:100 x 150 mm |
| Программируемый XY-каскад | Дополнительно |
| Диапазон перемещения по оси Z | 150 mm |
| Размер выборочной корзины | 564mm×540mm×150mm（L×W×H） |
| Габаритные размеры | 664mm×761mm×757mm（L×W×H） |
| гири | 120KG |
| источник питания | AC 220V±5V 50Hz(конфигурация зависит от региона) |
| рейтинг | 150W |
