X射线衍射利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
FRINGE C1600是公司自主研发的一款多功能X射线衍射分析仪器，是材料研究、生物医药、矿物、塑料制品、半导体等众多领域分析应用的理想工具。FRINGE C1600可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行以下分析：
物相定性和定量
晶体结构以及取向的测定
结晶度测定
晶粒尺寸测定
宏观及微观应力的测定
点阵参数测定
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