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TrueX COAT镀层分析仪

TrueX COAT镀层分析仪

    TrueX COAT镀层分析仪

    镀层的厚度是在镀层产品品质的最重要保证因素。常用的镀层厚度测量方法包括破坏性和非破坏性两大类。破坏性测厚法包括阳极溶解库仑法、金相法、溶解称重法、液流法、点滴法等;非破坏性测厚法包括机械量具法、磁性法、涡流法、XRF分析法等。其中,XRF分析法是因其非破坏性、快速性和直接性等特点,是镀层厚度测量领域中常见的和比较欢迎的方法之一。


    TrueX COAT适用于镀层厚度测量及材料分析,具有无损,可靠,高生产力,高灵活性等优点,可用来定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量,广泛应用于电路板、半导体、电镀、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等工业中的功能性镀层电镀槽液中的成分浓度分析。


    使用优势

    便携性

    仪器体积更小、重量更轻,方便现场实时检测,可轻松应对各种形状的样品。

    无损检测

    在不损坏检测对象的前提下,快速精准地对样品的镀层厚度以及样品元素含量进行分析。

    用户友好

    配备简单直观的操作界面,易于学习和使用,甚通过触摸屏直接进行操作,降低了操作者的技能要求。

    准确可靠的定性定量方法

    集成了浪声前沿的Super-FP算法、校正曲线法等先进算法,使得仪器不仅测量速度更快,测量准确性更高,测量一致性更强。

    高品质进口探测器

    仪器选用适合于多元素镀层的分析进口探测器,可灵活地应对镀层结构。

    规格参数

    重量

    1.5KG

    尺寸 254mm×79mm×280mm(L×W×H)
    激发源 50kV/200μA上限,管压管流可自由调节,W/Ag/Rh靶材(可选配)
    分析层数 5层(4层+基材)每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素
    摄像头 可选配摄像头
    准直器 可选配
    镀层厚度范围 0-50μm
    探测器 Si-Pin探测器/SDD探测器(可选配)
    显示系统

    4.3英寸工业级电阻触摸屏

    自动根据外部环境亮度调节显示器亮度

    数据处理

    内置32G存储器

    USB,蓝牙,WIFI,可将设备联入互联网,可远程对仪器进行设置及检修

    散热性 仪器配有专用的T型槽式散热装置,提高仪器散热性能,无需频繁等待探测器冷却
    安全性

    内置DoubleBeam™ 技术自动感知前方有无样品,提高射线的安全性和防护等级

    防水、防尘、防震手提箱

    LANScientific专用安全绳

    电源系统

    具有MSBUS总线的智能电池、实时监控电池、备用电池可直接查看电池剩余容量,电池符合航空危险品运输条例

    单个电池可持续工作8小时左右


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